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提出一种用于在化学计量或者化学计量过程的框架下对用于测量物质（４）的光谱分量的光谱仪进行校正的系统以及方法，所述方法利用了用于测量所要检验的物质（４）光谱分量的光谱仪装置（１）以及具有校正单元（２），借助该校正单元（２）基于所测得的光谱测量...该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司授权不得商用。