【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于对诸如用在化学计量中的光谱仪加以校正的方法以及系统。 光谱仪用于检验物质或测量对象，其中，不同波长的光谱分量作为光谱测量的数据受到检 测和检验。所要检验物质的光谱范围和光谱分量的相应波长在此可以在相当大的波长范围 内发生变化。光谱仪在依赖于波长各自强度的情况下来检测不同波长的光谱分量，从中可 以推出所检验物质的组成。
技术介绍
本专利技术研究这种类型光谱仪的校正。在现有技术中，一方面公知的是，通过机械修 正和调整仪器或装置本身对光谱仪或者光谱仪器加以校正。例如W0/2003/067 204公知了 对中阶梯光栅(Echelle)-光谱仪的校正，其中，通过调整间隙布置的间隙宽度，根据其预 定位置进行初级色谱计(Vorchromator)的校正。另外，在现有技术中公知了 在光谱测量的数据的层面上对测量对象的所测得 的光谱和所属物质浓度加以校正在化学计量时，例如从大量所测得的光谱分量中选取 对各自的测量对象在物理上有关联的光谱分量，并且借助这种选取对光谱仪装置执行 校正。在此，在从光谱测量数据的全部所测得的光谱中选取有关联的光谱分量情况下 所公知的...
【技术保护点】
用于在化学计量或者化学计量过程的框架下对用于测量物质（４）的光谱分量的光谱仪进行校正的方法，所述方法利用用于测量所要检验的物质（４）的光谱分量的光谱仪装置（１）以及校正单元（２），借助所述校正单元（２）基于所测得的光谱测量数据对所述光谱仪装置（１）和／或者测量数据进行校正， 其特征在于如下步骤： ａ）测量所要检验的物质（４）的光谱分量Ｘ的总体和／或者所属的物质浓度； ｂ）将所测得的光谱分量Ｘ的总体作为光谱测量的测量数据以多维系数向量的形式储存在存储模块（３）内； ｃ）从所测得的光谱分量Ｘ的总体中，通过寄存在所述校正单元（２）内的自动运行的迭代估计法，自动提取对于相应...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：托马斯阿尔伯，埃丹安杰利奇，
申请(专利权)人：恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司，
类型：发明
国别省市：DE
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