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一种比较半导体器件的静电放电性能的方法，包括：收集各组半导体器件所有测试管脚在静电放电测试中的失效电压；对各组半导体器件的失效电压数据进行概率分布统计；基于概率分布，获得各组半导体器件的外推最低电压；若半导体器件的外推最低电压与所述失效电压...
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