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本技术公开了一种半导体加工用测试装置，包括检测灯，所述检测灯转动连接有灯杆，所述灯杆底端滑动连接有固定筒，所述固定筒上开设有滑动槽，且所述固定筒底端固定连接有底座；还包括调整组件，所述调整组件设置于所述固定筒中并与所述灯杆相连接，其包括设置...
该专利属于昆山尚亦精密机械有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山尚亦精密机械有限公司授权不得商用。

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