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本发明属于光学测量与图像处理技术领域，具体的说是基于YOLO算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，包括工作台，所述工作台的顶端固接有丝拉杆升降台；所述丝拉杆升降台的一侧连接有载物台；所述载物台的顶端设置有电子光学显微镜；所述电子光学显微...
该专利属于中国计量大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量大学授权不得商用。

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