基于YOLO算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于光学测量与图像处理技术领域，具体的说是基于YOLO算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，包括工作台，所述工作台的顶端固接有丝拉杆升降台；所述丝拉杆升降台的一侧连接有载物台；所述载物台的顶端设置有电子光学显微镜；所述电子光学显微镜的顶端设置有CMOS图像传感器；所述工作台的一侧设置有上位机；所述工作台的顶端一侧设置有驱动器；所述驱动器的一侧设置有电机；通过采用基于YOLOv8的深度学习模型进行微孔直径识别，显著提升了在复杂背景和模糊边缘下的识别准确率；通过高精度的电机控制和精确的焦面定位方法，保证了深度测量的精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学测量与图像处理，具体的说是基于yolo算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置。

技术介绍

1、随着社会的发展，在航空航天领域、电子制造领域、医疗设备领域、能源工业领域、精密机械领域等其他领域往往需要进行大深径比微孔的参数测量。

2、大深径比微孔的参数测量是一项具有挑战性的任务，微孔因其直径极小、深径比大的特点，在非接触式光学测量中面临诸多技术难题，首先，微孔直径极小、孔径边缘模糊，传统图像处理难以准确识别其轮廓,其次，在深度测量过程中，由于孔底处于弱光甚至阴影区域，成像效果易受光源方向与强度影响,第三，显微镜焦面的微小偏移会显著影响图像清晰度，为此，本专利技术提供基于yolo算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置。

技术实现思路

1、为了弥补现有技术的不足，解决
技术介绍
中所提出的至少一个技术问题。

2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：本专利技术所述的基于yol算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，包括工作台，所述工作台的顶端固接有丝拉杆升降台；所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于YOLO算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的顶端固接有丝拉杆升降台(2)；所述丝拉杆升降台(2)的一侧连接有载物台(3)；所述载物台(3)的顶端设置有电子光学显微镜(4)；所述电子光学显微镜(4)的顶端设置有CMOS图像传感器(5)；所述工作台(1)的一侧设置有上位机(7)；所述工作台(1)的顶端一侧设置有驱动器(9)；所述驱动器(9)的一侧设置有电机(10)。

2.根据权利要求1所述的基于YOLO算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，其特征在于：所述电子光学显微镜(4)的镜头内侧固接有照明灯环(6)；所述照明...

【技术特征摘要】

1.基于yolo算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的顶端固接有丝拉杆升降台(2)；所述丝拉杆升降台(2)的一侧连接有载物台(3)；所述载物台(3)的顶端设置有电子光学显微镜(4)；所述电子光学显微镜(4)的顶端设置有cmos图像传感器(5)；所述工作台(1)的一侧设置有上位机(7)；所述工作台(1)的顶端一侧设置有驱动器(9)；所述驱动器(9)的一侧设置有电机(10)。

2.根据权利要求1所述的基于yolo算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，其特征在于：所述电子光学显微镜(4)的镜头内侧固接有照明灯环(6)；所述照明灯环(6)的内径等于所述电子光学显微镜(4)的物镜直径。

3.根据权利要求1所述的基于yolo算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，其特征在于：所述上位机(7)包括运行windows操作系统的计算机，所述上位机(7)内部安装有pycharm开发环境，所述pycharm中集成有pytorch框架和yolo目标检测模型；所述上位机(7)通过usb接口与cmos图像传感器(5)进行电性连接，通过rs485通信协议与电机(10)控制器进行电性连接。

4.根据权利要求1所述的基于yolo算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：李涵悦，梁立扬，温志龙，朱周洪，沈常宇，
申请(专利权)人：中国计量大学，
类型：发明
国别省市：