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待测设计的验证方法、验证环境的搭建方法、验证环境及芯片验证装置制造方法及图纸
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文档序号:46612445
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本申请涉及芯片验证技术领域,公开了一种待测设计的验证方法、验证环境的搭建方法、验证环境及芯片验证装置。该验证方法包括,在接收到测试激励标识的情况下,通过激励生成组件获取测试激励标识对应的目标配置文件;通过解析组件对目标配置文件进行参数解析,...
该专利属于飞腾信息技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过飞腾信息技术有限公司授权不得商用。
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