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本发明提供了一种集成芯片的故障检测方法及系统，涉及半导体技术领域，包括：获取与集成芯片固有属性相关的扫描链故障字典，组成包括不同故障状态向量的故障特征矩阵；确定对故障特征矩阵进行调制的测试向量生成约束；通过求解关于测试向量的凸松弛优化函数生...
该专利属于深圳超盈智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳超盈智能科技有限公司授权不得商用。

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