一种集成芯片的故障检测方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种集成芯片的故障检测方法及系统，涉及半导体技术领域，包括：获取与集成芯片固有属性相关的扫描链故障字典，组成包括不同故障状态向量的故障特征矩阵；确定对故障特征矩阵进行调制的测试向量生成约束；通过求解关于测试向量的凸松弛优化函数生成扫描链的优化测试向量；利用优化测试向量对集成芯片进行故障检测，采集响应矩阵；结合响应矩阵和优化测试向量，求解故障状态估计向量；通过残差熵度量故障状态估计向量的置信度，在置信度大于预设置信度的情况下，缩小测试向量生成约束的上限值，返回更新优化测试向量；否则，输出故障位置和故障类型。消除故障模糊性，确保故障类型和位置可以准确识别。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体，特别涉及一种集成芯片的故障检测方法及系统。

技术介绍

1、集成芯片（integrated circuit，ic）是一种将多个电子组件（如晶体管、电阻、电容等）通过微电子技术集成到一块小型半导体材料上的电子元件。它广泛应用于计算机、手机、家电等电子设备中，是现代电子产品的核心部件。

2、集成芯片是现代电子设备的核心，任何故障都会导致系统无法正常工作。随着集成度的不断提高，芯片故障变得更加复杂且难以预测，可能影响到设备的稳定性和性能。有效的故障检测不仅能够及时发现问题，还能提前防止故障蔓延，降低维修成本，确保产品的高可靠性和用户体验，尤其在高端领域如医疗、航空等，对芯片故障的监控至关重要。

3、然而，集成芯片的故障检测存在多故障干扰问题，导致不同故障可能产生相同的测试响应，导致故障测试准确性不足，尤其在复杂故障场景下，无法有效消除故障模糊性。

技术实现思路

1、鉴于以上现有技术的不足，本专利技术实施例的目的在于提供一种集成芯片的故障检测方法，能够解决现有技术存在的集成本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集成芯片的故障检测方法，其特征在于，应用于具有扫描链的集成芯片；方法包括：

2.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，其特征在于，所述故障特征矩阵的每一列代表一个所述故障事件的故障状态向量，所述故障特征矩阵的每一行代表一组测试数据。

3.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，其特征在于，所述S2具体包括：

4.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，其特征在于，所述S3具体包括：

5.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，其特征在于，所述S4具体为：

6.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，...

【技术特征摘要】

1.一种集成芯片的故障检测方法，其特征在于，应用于具有扫描链的集成芯片；方法包括：

2.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，其特征在于，所述故障特征矩阵的每一列代表一个所述故障事件的故障状态向量，所述故障特征矩阵的每一行代表一组测试数据。

3.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，其特征在于，所述s2具体包括：

4.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，其特征在于，所述s3具体包括：

5.根据权利要求1所述的集成芯片的故障检测方法，其特征在于，所述s4具体为：

6.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏俊杰，杨鑫，
申请(专利权)人：深圳超盈智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：