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本发明涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种基于老化测试的芯片测试设备及方法；本发明的一种基于老化测试的芯片测试设备，包括：机体、测试板和测试座；芯片封装在所述测试座内；所述机体内设置有温控模块；所述温控模块能够对机体内进行加热和保温；所述测试...
该专利属于江苏泛腾电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏泛腾电子科技有限公司授权不得商用。

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