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本申请公开一种元件检测方法和装置，方法包括，获得含待测元件的待测图像，以及待测元件对应的至少一个目标元件模板；每个目标元件模板包括特征数据和样本关键区域图像；基于每个目标元件模板中的特征数据，从待测图像中提取对应的待测关键区域图像，特征数据...
该专利属于联想（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联想（北京）有限公司授权不得商用。

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