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本发明公开了一种太阳模拟器检测方法及系统，涉及光学系统领域，用于解决实现检测太阳模拟器的光学指标的问题。方法包括：使像面处于太阳模拟器的出光侧，接收其出射光并进行成像，获得第一光场分布图像；对于第一光场分布图像的任一像素，根据预设关系及本像...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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