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本发明提供了测试纳米材料粒径尺寸及分布的方法。测试方法包括：采用XRD对纳米材料进行测试，获得其X射线衍射谱图；将X射线衍射谱图导入全谱拟合精修软件进行数据处理，获取纳米材料的晶粒尺寸分布，数据处理包括：用FP法对X射线衍射谱图进行全谱拟合...
该专利属于北京当升材料科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京当升材料科技股份有限公司授权不得商用。

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