测试纳米材料粒径尺寸及分布的方法技术

本发明专利技术提供了测试纳米材料粒径尺寸及分布的方法。测试方法包括：采用XRD对纳米材料进行测试，获得其X射线衍射谱图；将X射线衍射谱图导入全谱拟合精修软件进行数据处理，获取纳米材料的晶粒尺寸分布，数据处理包括：用FP法对X射线衍射谱图进行全谱拟合，得到纳米材料的晶粒尺寸体积分布图，全谱拟合包括：建立FP法模块几何参数、确定晶粒形状、选择晶粒尺寸分布类型以及导入校准文件后进行全谱拟合；根据晶粒尺寸体积分布，提取纳米材料的粒度数据。可以更全面地理解纳米材料的真实性质和性能，对于其应用和研究具有重要的意义；测试方法简单易实施，晶粒尺寸分布统计准确度较高，测得晶粒尺寸精度高，更具代表性、可靠性和指导意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电池，具体的，涉及测试纳米材料粒径尺寸及分布的方法。

技术介绍

1、固态电池是一种使用固体电极和固体电解质的电池。固态电池的原理与之相同，只不过其电解质为固态，具有的密度以及结构可以让更多带电离子聚集在一端，传导更大的电流，进而提升电池容量。

2、在纳米材料中，固态纳米电池材料的晶粒尺寸分布统计是一个重要的研究方向，因为它直接影响到纳米材料的性能。目前固态纳米电池材料尺寸的常用的方法为：利用扫描电镜或者透射电镜测试纳米材料尺寸，但是测试局限性，测量准确性跟样品制样、选区有关系并且没有粒度分布统计；利用纳米粒度仪测试纳米材料尺寸大小和分布，具有操作简便、测试快捷、高分辨、高重复及测试准确等特点，但是测试溶剂选择存在局限性，一些溶解或者分解材料使用。

技术实现思路

1、本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种测试纳米材料粒径尺寸及分布的方法，该方法测试简单易实施，测试准确度高。

2、在本专利技术的一方面，本专利技术提供本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试纳米材料粒径尺寸及分布的方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述建立FP法模块几何参数包括：确定辐射谱图和测试条件；

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述辐射图谱的相对强度及FWHM为：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述聚焦光路的焦点外放射尺寸范围为2.0-5.0mm；Cheary-Coclho轴向发散模型的入射索拉狭缝为2-5°，接受索拉狭缝为2-5°。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述晶粒形状为球形；

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，...

【技术特征摘要】

1.一种测试纳米材料粒径尺寸及分布的方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述建立fp法模块几何参数包括：确定辐射谱图和测试条件；

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述辐射图谱的相对强度及fwhm为：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述聚焦光路的焦点外放射尺寸范围为2.0-5.0mm；cheary-coclho轴向发散模型的入射索拉狭缝为2-5°，接受索拉狭缝为2-5°。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述晶粒形状为球形；

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述校准文件为国际标准物质nist srm660系列lab6的fp法仪器标准文件。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的方法，其特征在于，在用fp法对所述x射线衍射谱图进行全谱拟合前，所述数据处理还包括：进行峰位处理、物相识别；

8.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：付海宽，张立平，郑亚博，王文波，王玉娇，刘亚飞，陈彦彬，
申请(专利权)人：北京当升材料科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：