下载一种IC载板测试方法及系统的技术资料

文档序号:46566809

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本申请公开了一种IC载板测试方法及系统,主要涉及IC载板技术领域,用以解决现有方案存在检测维度单一、定位精度不足、测试效率低下的问题。包括:筛选出接触电阻值超阈值或未导通的测试点作为检测对象;采用TDR时域反射仪在1GHz频段下进行阻抗测试...
该专利属于清河电子科技(山东)有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过清河电子科技(山东)有限责任公司授权不得商用。

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