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本技术公开一种半导体器件的测试探针台，包括底座、设置于底座上的测试载盘和位于测试载盘上方的探针头，所述底座上表面并位于测试载盘的外侧开设有一环形凹槽，此环形凹槽内嵌入安装有一可绕环形凹槽的中心转动的环形板，所述环形板的下表面上开设有若干个沿...
该专利属于深圳市赢合智慧科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市赢合智慧科技有限公司授权不得商用。

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