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本发明提出一种双层对焦方法及系统。该方法包括，获取经待测物表面反射的光斑图像；预处理光斑图像，获取像素行‑像素值曲线图，并筛选像素行‑像素值曲线图的峰点、谷点；基于每一谷点的像素值及与其相邻的峰点的像素值，计算每一谷点的左侧阈值、右侧阈值；...
该专利属于合肥埃科光电科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥埃科光电科技股份有限公司授权不得商用。

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