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一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法，属于晶体管测试技术领域。该测试系统分为3部分：分别是电压应力值及应力时长控制模块、电流控制模块、硬开关瞬态及导通电阻测试模块。分别用来控制待测晶体管所受漏极电压应力值及漏极电压应力时长；硬开关测...
该专利属于中天微（天津）电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中天微（天津）电子科技有限公司授权不得商用。

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