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本发明涉及一种芯片仿真缺陷生成方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括：获取初始模型；对初始模型进行训练，得到仿真缺陷模型；根据仿真缺陷模型，生成芯片仿真缺陷图像；其中，仿真缺陷模型包括：编码器、跳层连接器和解码器，根据仿真缺陷模型，...
该专利属于深圳格芯集成电路装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳格芯集成电路装备有限公司授权不得商用。

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