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本技术公开了一种反射型薄膜透过率的测量装置。本技术通过添加反射面，只需要分别测出薄膜的光强反射率R和薄膜‑反射面的光强反射率R′，就能够通过公式直接算出薄膜的透过率，不需要建立精密光学模型和复杂拟合；薄膜的反射光和反射面反射回来的光不发生干...
该专利属于北京师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京师范大学授权不得商用。

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