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本发明提供了一种半导体测试机的在线测试方法、半导体测试机及测试系统，基于EAP系统下发至半导体测试机的测试指令触发其自检，若判断存在具有自检需求的至少一个目标自检项，则根据对应的硬件的空闲状态确定是否自检；直至至少一个目标自检项均通过自检或...
该专利属于杭州广立测试设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州广立测试设备有限公司授权不得商用。

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