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本申请涉及一种控温测试装置及三温分选机。所述控温测试装置，用于使得电子器件能够在不同温度下测试，所述控温测试装置包括：测试腔，其配置为能够容纳电子器件并营造出不同的温度环境；气泵，连通于所述测试腔，以能够将所述测试腔内的气体抽出；以及干燥器...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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