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本发明涉及计算机技术和光学密度领域，特别涉及一种基于标准参考底片的光学密度自动测量方法。本发明利用标准参考底片光学密度恒定原理，提出的方法包括以下步骤：首先，利用标准参考底片灰度和光学密度之间的趋势关系构建标准底片光学密度测量模型。其次，构...
该专利属于西安工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安工业大学授权不得商用。

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