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本发明公开了一种适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统及方法，包括连续光源、待测相位调制器、信号发生器、光纤可调延迟线、3dB光耦合器和光功率计；3dB光耦合器包括第一3dB光耦合器和第二3dB光耦合器，连续光源输出的光信号被第一3dB光...
该专利属于江苏铌奥光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏铌奥光电科技有限公司授权不得商用。

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