一种适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统及方法技术方案

技术编号:46446840 阅读:8 留言:0更新日期:2025-09-19 20:48
本发明专利技术公开了一种适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统及方法,包括连续光源、待测相位调制器、信号发生器、光纤可调延迟线、3dB光耦合器和光功率计;3dB光耦合器包括第一3dB光耦合器和第二3dB光耦合器,连续光源输出的光信号被第一3dB光耦合器分为上臂光信号和下臂光信号,上臂光信号进入待测相位调制器,下臂光信号与光纤可调延迟线连接,第二3dB光耦合器将上下两臂光信号耦合后,输入光功率计。本发明专利技术可以测量相位调制器带宽范围内所有频率的半波电压,精度可达到0.01V,适用范围广;本发明专利技术所使用的仪器设备均为常用设备,成本低,且对信号发生器功率的要求仅为产生的正弦信号峰峰值达到待测相位调制器半波电压Vπ的1.53倍,适用于厂商生产测试等场景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种相位调制器半波电压测试系统及方法,尤其涉及一种适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统及方法


技术介绍

1、电光相位调制器是一种基于电光效应实现对光载波相位进行调制的光电子器件,在光纤通信、光学传感、量子光学等领域具有重要应用。半波电压是衡量调制器性能的重要指标,决定了调制器的调制效率,半波电压越小,调制效率越高。确定半波电压的大小具有重要的意义,首先,性能评估是对于厂商和客户来说都是必不可少的,其次,在设计系统时,需要知道具体的半波电压值才能正确配置驱动电路,确保调制器工作在最佳状态,避免非线性失真。

2、现有的相位调制器半波电压测试方法主要有三角波法和光谱法。相位调制器在调制时只改变光载波相位而不改变光强度,在较低频率下,向相位调制器rf调制端口注入三角波进行调制,通过sagnac环实现相位调制-强度调制转换,输出光信号经过光电转换后由示波器所接收,可以通过示波器上信号相邻的峰值和谷值之间的时间差、三角波信号频率和三角波峰峰值三者共同推导得到待测相位调制器的半波电压。这种方法具有精度高的优点,但一般只用于测试较低频率的半本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统,其特征在于,包括连续光源、待测相位调制器、信号发生器、光纤可调延迟线、3dB光耦合器和光功率计;3dB光耦合器包括第一3dB光耦合器和第二3dB光耦合器,连续光源输出的光信号被第一3dB光耦合器分为上臂光信号和下臂光信号,上臂光信号进入待测相位调制器,下臂光信号与光纤可调延迟线连接,第二3dB光耦合器将上下两臂光信号耦合后,输入光功率计。

2.根据权利要求1所述的适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统,其特征在于,所述光纤可调延迟线用于改变上下两臂光信号的相位差。

3.根据权利要求1所述的适用于宽频段的相位调制器...

【技术特征摘要】

1.一种适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统,其特征在于,包括连续光源、待测相位调制器、信号发生器、光纤可调延迟线、3db光耦合器和光功率计;3db光耦合器包括第一3db光耦合器和第二3db光耦合器,连续光源输出的光信号被第一3db光耦合器分为上臂光信号和下臂光信号,上臂光信号进入待测相位调制器,下臂光信号与光纤可调延迟线连接,第二3db光耦合器将上下两臂光信号耦合后,输入光功率计。

2.根据权利要求1所述的适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统,其特征在于,所述光纤可调延迟线用于改变上下两臂光信号的相位差。

3.根据权利要求1所述的适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统,其特征在于,所述信号发生器产生的正弦信号注入待测相位调制器的rf调制端口,对上臂光信号进行调制。

4.根据权利要求1所述的适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统,其特征在于,所述连续光源产生的光信号为:

5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:柏博陶宗渊陈力锋胡紫阳
申请(专利权)人:江苏铌奥光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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