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本申请涉及一种碳化硅器件的双极退化筛选方法、装置及系统。双极退化筛选方法包括：对待测碳化硅器件进行直流应力试验，获取第一试验结果；在所述第一试验结果为不合格的情况下，确定所述待测碳化硅器件的双极退化筛选结果为不合格；在所述第一试验结果为合格...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。