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本申请提供一种半导体器件及其制备方法。该半导体器件的制备方法包括:提供半导体基体,半导体基体包括衬底和衬底上的第一层结构,第一层结构中形成有气隙孔;在气隙孔内形成多孔填充物,多孔填充物填满气隙孔,且多孔填充物的介电常数小于第一层结构的介电常...该专利属于武汉新芯集成电路股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉新芯集成电路股份有限公司授权不得商用。
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