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本发明提供了一种RGB‑D里程计结构特征检验方法、装置、设备及介质，该方法包括对RGB图像检测获得线特征，对深度图像检测获得平面特征；对齐RGB图像与深度图像之间的像素，从深度图像中得到线特征端点的深度值，根据相机内参转换为相机坐标系下的三...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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