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本发明提供了一种芯片测试分选机，配置测试分选室及设于其内的流转装置，流转装置将中转工位设置于Y向前侧，测试机构设置于中转工位的正后方，配置架空转移机构及至少两层载盘的穿梭移载机构；在中转工位，较高层的载盘相对于较低层的载盘更靠近供收料机构；...
该专利属于昆山新锦宏智能装备科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山新锦宏智能装备科技有限公司授权不得商用。

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