温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种存储器多行之间串扰的测试方法，包括：首先对存储器进行擦除操作为FF；逐次对第一对角线至第N‑1对角线上的逻辑地址对应的字节或字进行编程操作，并且每条对角线编程后，均对剩余未编程行的字节或字进行读操作，构成一轮编程和读取。若前一...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。