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一种测试电路设计方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:46320100
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本申请提供一种测试电路设计方法、装置、电子设备及存储介质,应用于计算机技术领域,该方法在根据集成电路的门级网表进行布局布线,得到集成电路的初始版图后,根据初始版图中功能单元以及金属线的分布情况,将初始版图划分为多个子区域且集成电路中任一功能...
该专利属于飞腾信息技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过飞腾信息技术有限公司授权不得商用。
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