【技术实现步骤摘要】
本申请涉及计算机，具体涉及一种测试电路设计方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、扫描链能够模拟集成电路的多种故障场景，实现高达95％以上的验证覆盖率，而随着集成电路的设计规模越来越大，扫描链数量随之增多，导致集成电路的测试成本持续走高，通过edt(embedded deterministic test，嵌入式确定性测试)技术可以将数量庞大的扫描链通过压缩和解压缩的方式转换为数量较少的扫描通道，从而有效降低测试成本。
2、在相关技术中，根据集成电路中各个功能单元之间的逻辑连接关系插入edt电路，得到相应的edt串链网表，并根据edt串链网表进行布局布线，但是，由于集成电路各模块之间的逻辑连接关系与实际布局情况存在差异，比如，没有逻辑连接关系的两个功能单元就近布置，再比如，存在逻辑连接关系的功能单元布局位置相距很远，这些差异有可能导致集成电路出现布局布线拥塞甚至冲突的情况，从而不得不需要重新调整集成电路的布局布线，导致集成电路设计周期过长，耗费大量的人力物力。
技术实现思路
<...【技术保护点】
1.一种测试电路设计方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述初始版图的布局信息将所述初始版图划分为多个子区域，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述初始版图的金属线包括水平布置的金属线和竖直布置的金属线；
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设密度阈值包括第一密度阈值和第二密度阈值；
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述集成电路的功能单元包括主时钟单元和至少一个辅时钟单元；
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述初始版图的布...
【技术特征摘要】
1.一种测试电路设计方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述初始版图的布局信息将所述初始版图划分为多个子区域，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述初始版图的金属线包括水平布置的金属线和竖直布置的金属线；
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设密度阈值包括第一密度阈值和第二密度阈值；
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述集成电路的功能单元包括主时钟单元和至少一个辅时钟单元；
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述初始版图的布局信息将所述初始版图划分为多个子区域，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾朵朵，罗海鹏，彭书涛，马卓，
申请(专利权)人：飞腾信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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