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本技术公开了一种芯片老化测试自动上下料系统，包括对测试板进行检测并根据检测结果输出测试座信息的维护终端；将未检测的芯片插入测试座，或将检测后的芯片从测试座拔出的插拔机；对芯片进行测试并根据测试结果输出芯片信息的老化测试机；接收测试座信息并生...
该专利属于康佳芯云半导体科技（盐城）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过康佳芯云半导体科技（盐城）有限公司授权不得商用。

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