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本技术公开了一种集成电路测试装置，包括测试底板和固定安装在测试底板上的矩形框架；所述矩形框架内设置有托板，所述测试底板上安装有用于带动托板进行升降的升降结构；所述矩形框架包括四个框板，所述框板上开设有上下贯通的滑槽，所述滑槽内滑动配合有滑板...
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