一种集成电路测试装置制造方法及图纸

技术编号:46304145 阅读:5 留言:0更新日期:2025-09-05 18:39
本技术公开了一种集成电路测试装置,包括测试底板和固定安装在测试底板上的矩形框架;所述矩形框架内设置有托板,所述测试底板上安装有用于带动托板进行升降的升降结构;所述矩形框架包括四个框板,所述框板上开设有上下贯通的滑槽,所述滑槽内滑动配合有滑板,所述滑板向一侧固定有若干间隔设置的夹块,所述夹块的端部固定有夹头,所述夹头开设有夹口,所述框板正对夹头开设有与滑槽连通的让位口;所述测试底板上安装有用于带动四个滑板同步动作的同步结构。本集成电路测试装置具有能够提高定位精度,进而提高测试效率,稳定性高的优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及集成电路测试,特别是涉及一种集成电路测试装置


技术介绍

1、集成电路是一种微型电子器件,通过采用一定的工艺,把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行功能测试时,一般是对电子产品的集成电路进行功能测试。

2、在对集成电路进行功能测试时,传统的定位方法为机械定位,即依靠定位销定位,但是这种定位方式会受到装配、磨损等因素的影响导致定位精度不够,降低了测试效率。


技术实现思路

1、针对上述现有技术的不足,本专利申请所要解决的技术问题是如何提供一种能够提高定位精度,进而提高测试效率,稳定性高的集成电路测试装置。

2、为了解决上述技术问题,本技术采用了如下的技术方案:

3、一种集成电路测试装置,包括测试底板和固定安装在测试底板上的矩形框架;

4、所述矩形框架内设置有托板,所述测试底板上安装有用于带动托板进行升降的升降本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集成电路测试装置,其特征在于,包括测试底板和固定安装在测试底板上的矩形框架;

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述升降结构包括固定安装在测试底板上的气缸,所述气缸设置有四个且呈矩形排列,所述气缸的缸杆向上设置且与托板固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述同步结构包括固定安装在滑板下端的连接板,所述连接板垂直固定有滑杆,所述框板开设有与滑杆滑动配合的滑孔;

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述夹头由橡胶材料制得。

5.根据权利要求1所述的一种集成电...

【技术特征摘要】

1.一种集成电路测试装置,其特征在于,包括测试底板和固定安装在测试底板上的矩形框架;

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述升降结构包括固定安装在测试底板上的气缸,所述气缸设置有四个且呈矩形排列,所述气缸的缸杆向上设置且与托板固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测...

【专利技术属性】
技术研发人员:闻雅闻周斌王毅
申请(专利权)人:广东佛欣科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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