【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路测试,特别是涉及一种集成电路测试装置。
技术介绍
1、集成电路是一种微型电子器件,通过采用一定的工艺,把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行功能测试时,一般是对电子产品的集成电路进行功能测试。
2、在对集成电路进行功能测试时,传统的定位方法为机械定位,即依靠定位销定位,但是这种定位方式会受到装配、磨损等因素的影响导致定位精度不够,降低了测试效率。
技术实现思路
1、针对上述现有技术的不足,本专利申请所要解决的技术问题是如何提供一种能够提高定位精度,进而提高测试效率,稳定性高的集成电路测试装置。
2、为了解决上述技术问题,本技术采用了如下的技术方案:
3、一种集成电路测试装置,包括测试底板和固定安装在测试底板上的矩形框架;
4、所述矩形框架内设置有托板,所述测试底板上安装有用于带
...【技术保护点】
1.一种集成电路测试装置,其特征在于,包括测试底板和固定安装在测试底板上的矩形框架;
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述升降结构包括固定安装在测试底板上的气缸,所述气缸设置有四个且呈矩形排列,所述气缸的缸杆向上设置且与托板固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述同步结构包括固定安装在滑板下端的连接板,所述连接板垂直固定有滑杆,所述框板开设有与滑杆滑动配合的滑孔;
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述夹头由橡胶材料制得。
5.根据权利要
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置,其特征在于,包括测试底板和固定安装在测试底板上的矩形框架;
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于,所述升降结构包括固定安装在测试底板上的气缸,所述气缸设置有四个且呈矩形排列,所述气缸的缸杆向上设置且与托板固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路测...
【专利技术属性】
技术研发人员:闻雅,闻周斌,王毅,
申请(专利权)人:广东佛欣科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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