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本申请涉及ADC测试技术领域，公开了一种多路ADC同测装置及系统，装置包括微控制器模块和多个DAC模块；各DAC模块分别用于对应连接不同的被测器件；微控制器模块用于接收多组测试指令；每组测试指令包括片选信号和测试参数；微控制器模块还用于根据...
该专利属于汇春科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过汇春科技（上海）有限公司授权不得商用。

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