本申请涉及ADC测试技术领域，公开了一种多路ADC同测装置及系统，装置包括微控制器模块和多个DAC模块；各DAC模块分别用于对应连接不同的被测器件；微控制器模块用于接收多组测试指令；每组测试指令包括片选信号和测试参数；微控制器模块还用于根据每组测试指令的片选信号将测试参数发送至对应的DAC模块；每个DAC模块用于在接收到测试参数时，根据测试参数得到电压信号；电压信号用于输入至与DAC模块连接的被测器件，以对被测器件中的ADC进行静态测试和/或动态测试。本申请能够同时对多颗被测器件的ADC性能进行测试。
【技术实现步骤摘要】
本申请涉及adc测试，尤其涉及一种多路adc同测装置及系统。
技术介绍
1、随着数字信号处理技术和通信技术的不断发展，对模数转换器(analog-to-digital converter，adc)的性能提出了越来越高的要求；同时，各个厂家的微控制单元(microcontroller unit，mcu)也集成了adc。adc性能的测试能够为研发和设计优化方面提供数据参考。
2、现有的方案大多数为使用自动化测试设备(ate)对adc进行测试。一个自动化测试设备(ate)单次只能对1颗包含adc的被测器件(device under test，dut)进行测试，对包含adc的单颗被测器件的测试时间也较长，在需要大批量测试时耗时会很长。另外，测试所使用的自动化测试设备的价格很高，无法实现大批量的采购从而加快测试速度。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例提供一种多路adc同测装置及系统，可以有效解决使用ate单次只能对1颗被测器件，且对多颗被测器件的测试时间较长的问题等。
>2、第一方面，本申本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种多路ADC同测装置，其特征在于，包括微控制器模块和多个DAC模块；各所述DAC模块分别用于对应连接不同的被测器件；
2.根据权利要求1所述的多路ADC同测装置，其特征在于，所述微控制器模块包括微控制器，所述微控制器支持USB接口，所述USB接口用于与上位机连接以接收所述测试指令。
3.根据权利要求1所述的多路ADC同测装置，其特征在于，所述DAC模块的数量最多为5个。
4.根据权利要求1所述的多路ADC同测装置，其特征在于，所述微控制器模块包括一个SPI接口，所述微控制器模块通过多个所述SPI接口与多个所述DAC模块连接。</p>5.根据
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【技术特征摘要】
1.一种多路adc同测装置，其特征在于，包括微控制器模块和多个dac模块；各所述dac模块分别用于对应连接不同的被测器件；
2.根据权利要求1所述的多路adc同测装置，其特征在于，所述微控制器模块包括微控制器，所述微控制器支持usb接口，所述usb接口用于与上位机连接以接收所述测试指令。
3.根据权利要求1所述的多路adc同测装置，其特征在于，所述dac模块的数量最多为5个。
4.根据权利要求1所述的多路adc同测装置，其特征在于，所述微控制器模块包括一个spi接口，所述微控制器模块通过多个所述spi接口与多个所述dac模块连接。
5.根据权利要求4所述的多路adc同测装置，其特征在于，所述测试参数包括被测器件adc的分辨位数、输入电压范围和工作电压。
6.根据权利要求1所述的多路adc同测装置，其特征在于，每个所述dac模块包括数字输入接口，所述dac模块用于基于包头协议通过所述数字输入接口...
【专利技术属性】
技术研发人员：季佳男，张修远，
申请(专利权)人：汇春科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：
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