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本发明描述一种具有用于验证外部接口功能性的自测试特征的集成电路。实例外部接口包括存储器接口及总线接口，例如外围组件互连（ＰＣＩ）总线、高级高性能总线（ＡＨＢ）、高级可扩展接口（ＡＸＩ）总线及以高频（例如，２００ＭＨｚ或更高）操作的其它外部接...
该专利属于高通股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高通股份有限公司授权不得商用。

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