具有用于验证外部接口的功能性的自测试特征的集成电路制造技术

技术编号:4623812 阅读:283 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术描述一种具有用于验证外部接口功能性的自测试特征的集成电路。实例外部接口包括存储器接口及总线接口,例如外围组件互连(PCI)总线、高级高性能总线(AHB)、高级可扩展接口(AXI)总线及以高频(例如,200MHz或更高)操作的其它外部接口。测试逻辑可嵌入于所述集成电路上且经配置以在从外部测试设备接收电力及非测试信号的同时验证外部接口功能性。因而,外部测试设备可不将高频测试信号供应给所述集成电路。然而,外部测试设备可独立地验证所述集成电路的引脚接口的功能性。结果,所述集成电路可减少检验所述外部接口的功能性及时序所需的成本及时间。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】本申请案主张2007年6月14日所申请的美国临时申请案第60/943,935号的权利,所述案的全文以引用的方式并入本文中。
本专利技术涉及集成电路,且更明确地说,涉及用于检验集成电路的外部接口的功能性及时序的技术。
技术介绍
集成电路(IC)装置可包含许多实施于半导体衬底中的小型化电路。在制造之后测试IC装置,以便在售出及商业使用之前确保适当操作。通常使用复杂及昂贵的外部测试设备来完成IC装置的全面测试。为了测试IC装置,将IC装置安装于测试设备上。具体来说,IC装置经由将核心逻辑与输入/输出(I/O)引脚互连的衬垫环而连接到测试设备。为了测试IC装置,根据由测试程序定义的测试,测试设备经由I/O引脚将定义测试的测试数据传递到IC装置且从IC装置获得响应信号。测试IC装置需要检验IC装置的外部接口及内部接口的功能性及时序。实例外部接口包括存储器接口及总线接口,例如,外围组件互连(PCI)总线、高级高性能总线(AHB)、高级可扩展接口(AXI)接口总线、小计算机系统接口(SCSI)总线、以太网总线、通用串行总线(USB)、高级图形处理器(AGP)总线、串行高级技术附接(SATA)总线及以高频操作的其它外部接口。检验外部接口的功能性及时序涉及使用主机计算机以开发测试程序并在测试中通过运行模拟而产生外部接口的追踪文件。一旦追踪文件(还称为测试向量、向量或测试数据)准备好,便将测试数据加载到测试设备上。测试设备根据测试数据将测试信号供应给IC装置且经由I/O引脚从IC装置获得响应信号。在测试期间,在发射模式与接收模式两者中测试IC装置的操作。在发射模式或接收模式中,测试设备根据测试数据来供应信号转变且IC装置产生对应的响应信号。测试设备接着根据测试数据来验证响应。在测试完成后,测试设备(或更明确地说,主机计算机)便解译响应信号。主机计算机可通过将发射及接收模式中由IC装置所产生的-->响应信号与模拟结果进行比较来解译结果。主机计算机基于所述比较而产生指示IC装置是否通过测试的报告。另外,对于每一测试向量,可针对多种操作条件(例如,温度、电压变化及工艺拐点)测试IC装置。此外,可需要测试设备产生在外部接口的最大操作频率处或在最大操作频率上的信号转变。随着IC装置的复杂性及时钟频率增加,测试设备信道所操作于的频率也需要增加以可靠地测试IC装置。举例来说,因为快速存储器装置的时钟频率几乎每年增加,所以需要升级、修改或甚至替换测试设备,以便以高操作频率测试这些装置。换句话说,使用为测试以较慢频率操作的装置而建造的较旧测试设备无法以IC装置的最大时钟频率来测试IC装置。因而,必须升级或购买测试设备,且必须随着时钟频率的每一次提高而开发新测试程序,从而增加新IC装置的成本。
技术实现思路
本专利技术描述一种具有用于验证高频外部接口的功能性的自测试特征的集成电路。实例外部接口包括存储器接口及总线接口,例如,外围组件互连(PCI)总线、高级高性能总线(AHB)、高级可扩展接口(AXI)总线、及以高频(例如,200MHz或更高)操作的其它外部接口。测试逻辑可嵌入于集成电路上且经配置以验证外部接口的功能性。举例来说,测试逻辑可经配置以在从外部测试设备接收电力及非测试信号的同时验证外部接口功能性。因而,外部测试设备可不将高频测试信号供应给集成电路。验证外部接口的功能性通常指基于与事务相关联的数据或基于事务是否与对应协议一致而验证经由外部接口所发射的事务。外部测试设备用于将电力及基本信号供应给集成电路以及独立验证集成电路的引脚接口的功能性。以此方式,集成电路的芯片上自测试特征可大体上消除测试设备供应高频测试信号的需要,且因此可减少检验外部接口的功能性及时序所需的成本及时间。在一个方面中,一种集成电路包含:处理器,其执行测试程序的指令以起始在发射及接收模式中的一者中的操作;核心逻辑,其根据测试程序产生事务以用于与处理器及一个或一个以上外部装置通信,且其中处理器根据测试程序而产生事务以用于与核心逻辑通信;及测试逻辑,其验证所述事务中的一个或一个以上事务且输出指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号。在另一方面中,一种方法包含:在集成电路上的处理器中执行测试程序的指令以起始在发射模式及接收模式中的一者中的操作;根据测试程序在处理器中产生事务以与集成电路上的核心逻辑通信;根据测试程序在核心逻辑中产生事务以与处理器及一个或一-->个以上外部装置通信;经由集成电路上的测试逻辑而验证所述事务中的一个或一个以上事务;及在测试逻辑中产生指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号。在另一方面中,一种集成电路包含:用于在集成电路上执行测试程序的指令以起始在发射模式及接收模式中的一者中的操作的装置;用于根据测试程序在处理器中产生事务以与集成电路上的核心逻辑通信的装置;用于根据测试程序在核心逻辑中产生事务以与处理器及一个或一个以上外部装置通信的装置;用于经由集成电路上的测试逻辑而验证所述事务中的一个或一个以上事务的装置;及用于产生指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号的装置。在另一方面中,一种计算机程序产品包含上面具有指令的计算机可读媒体。所述指令包含:用于在集成电路上执行测试程序的指令以起始在发射模式及接收模式中的一者中的操作的代码;用于根据测试程序在处理器中产生事务以与集成电路上的核心逻辑通信的代码;用于根据测试程序在核心逻辑中产生事务以与处理器及一个或一个以上外部装置通信的代码;用于经由集成电路上的测试逻辑而验证所述事务中的一个或一个以上事务的代码;及用于产生指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号的代码。在另一方面中,一种系统包含集成电路及将电力及时钟信号供应给所述集成电路的测试设备。所述集成电路包括:处理器,其执行测试程序的指令以起始在发射模式及接收模式中的一者中的操作;核心逻辑,其根据测试程序产生事务以用于与处理器及一个或一个以上外部装置通信,且其中所述处理器根据测试程序产生事务以用于与核心逻辑通信;及测试逻辑,其验证所述事务中的一个或一个以上事务,且输出指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号。本专利技术中所描述的技术可以硬件、软件、固件或其任一组合来实施。如果以软件实施,则软件可执行于一个或一个以上处理器(例如,微处理器、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或数字信号处理器(DSP))中。执行所述技术的软件最初可存储于计算机可读媒体中且加载并执行于处理器中。因此,本专利技术还涵盖包含在执行时致使装置执行如本专利技术中所描述的技术的指令的计算机可读媒体。在一些状况下,计算机可读媒体可形成包含计算机可读媒体的计算机程序产品的一部分。在附图及下文描述中阐述本专利技术的一个或一个以上方面的细节。从描述及图式中及从权利要求书中将明了本专利技术的其它特征、目的及优点。附图说明图1为说明具有自测试特征的集成电路及用于测试所述集成电路的外部测试设备的-->框图。图2为更详细地说明图1的集成电路的框图。图3为更详细地说明图2中的集成电路的示范性组件的框图。图4及图5为说明可由图2的集成电路执行的实例自测试技术的流程图。具体实施方式在制造之后测试集成电路,以便确保在售出及在商业使用之前适当操作。测试集成电路可涉及验证用于与外部装置通本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种集成电路,其包含: 处理器,其执行测试程序的指令以起始发射模式及接收模式中的一者中的操作; 核心逻辑,其根据所述测试程序产生事务以用于与所述处理器及一个或一个以上外部装置通信,其中所述处理器根据所述测试程序产生事务以用于与所 述核心逻辑通信;以及 测试逻辑,其验证所述事务中的一个或一个以上事务且输出指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2007-6-14 60/943,935;US 2007-8-21 11/842,3961.一种集成电路,其包含:处理器,其执行测试程序的指令以起始发射模式及接收模式中的一者中的操作;核心逻辑,其根据所述测试程序产生事务以用于与所述处理器及一个或一个以上外部装置通信,其中所述处理器根据所述测试程序产生事务以用于与所述核心逻辑通信;以及测试逻辑,其验证所述事务中的一个或一个以上事务且输出指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号。2.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口以大于约200MHz的频率操作。3.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口以大于约400MHz的频率操作。4.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述事务中的每一者与相应协议相关联,且其中所述测试逻辑基于所述事务中的所述一个或一个以上事务是否与所述相应协议一致而验证所述一个或一个以上事务。5.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述测试逻辑基于与所述一个或一个以上事务相关联的数据而验证所述一个或一个以上事务。6.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口中的每一者包括外围组件互连(PCI)总线、高级高性能总线(AHB)及高级可扩展接口(AXI)总线、小计算机系统接口(SCSI)总线、以太网总线、通用串行总线(USB)、高级图形处理器(AGP)总线及串行高级技术附接(SATA)总线中的一者。7.根据权利要求1所述的集成电路,其中,当操作于所述发射模式中时,所述处理器产生第一事务且将所述第一事务发送到所述核心逻辑,其中所述核心逻辑基于所述第一事务而产生第二事务且将所述第二事务发送到所述外部装置中的一者,以及其中所述测试逻辑验证所述第一事务及所述第二事务,且输出所述状态信号以指示所述第一事务及所述第二事务中的每一者是否有效。8.根据权利要求1所述的集成电路,其中,当操作于所述接收模式中时,所述处理器产生第一事务且将所述第一事务发送到所述核心逻辑,其中所述核心逻辑基于所述第一事务而产生第二事务,将所述第二事务发送到所述外部装置中的一者,产生第三事务,且将所述第三事务发送到所述处理器,以及其中所述测试逻辑验证所述第一事务、所述第二事务及所述第三事务,且输出所述状态信号以指示所述第一事务、所述第二事务及所述第三事务中的每一者是否有效。9.根据权利要求1所述的集成电路,其中,当操作于所述接收模式中时,所述测试逻辑将数据发送到所述核心逻辑,其中所述核心逻辑基于所述数据而产生第一事务且将所述第一事务发送到所述处理器,以及其中所述测试逻辑验证所述第一事务且输出所述状态信号以指示所述第一事务是否有效。10.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述测试逻辑截取所述事务、产生参考数据、将所述参考数据与同所述经截取的事务相关联的数据进行比较且基于所述比较而验证所述经截取的事务。11.根据权利要求10所述的集成电路,其中所述处理器根据所述测试程序而产生包括种子值的控制信号且将所述控制信号发送到所述测试逻辑,且其中所述测试逻辑基于所述种子值而产生所述参考数据。12.根据权利要求10所述的集成电路,其中所述处理器根据所述测试程序而产生控制信号且将所述控制信号发送到所述测试逻辑,且其中所述测试逻辑在接收所述控制信号之前被停用,且其中在所述测试逻辑接收所述控制信号之后,所述测试逻辑经启用以通过主动地探查所述处理器及核心逻辑发送所述事务所经由的一个或一个以上外部接口来截取所述事务。13.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述核心逻辑产生与所述事务相关联的响应消息且将所述响应消息发送到所述处理器,且其中所述测试逻辑验证所述响应消息并输出所述状态信号以指示所述响应消息是否有效。14.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述集成电路经配置以用于在个人计算机、膝上型计算机、个人数字助理(PDA)、超移动个人计算机(UMPC)、无线通信装置、联网装置及电子计算装置中的一者中操作。15.根据权利要求1所述的集成电路,其中所述集成电路经配置以作为无线通信装置中的移动台调制解调器(MSM)芯片操作。16.一种方法,其包含:在集成电路上的处理器中执行测试程序的指令以起始发射模式及接收模式中的一者中的操作;根据所述测试程序在所述处理器中产生事务以与所述集成电路上的核心逻辑通信;根据所述测试程序在所述核心逻辑中产生事务以与所述处理器及一个或一个以上外部装置通信;经由所述集成电路上的测试逻辑验证所述事务中的一个或一个以上事务;以及在所述测试逻辑中产生指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号。17.根据权利要求16所述的方法,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口以大于约200MHz的频率操作。18.根据权利要求16所述的方法,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口以大于约400MHz的频率操作。19.根据权利要求16所述的方法,其中所述事务中的每一者与相应协议相关联,且其中验证所述一个或一个以上事务包含在所述测试逻辑中基于所述一个或一个以上事务是否与所述相应协议一致而验证所述一个或一个以上事务。20.根据权利要求16所述的方法,其中验证所述一个或一个以上事务包含通过所述测试逻辑基于与所述一个或一个以上事务相关联的数据而验证所述一个或一个以上事务。21.根据权利要求16所述的方法,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口中的每一者包括外围组件互连(PCI)总线、高级高性能总线(AHB)、及高级可扩展接口(AXI)总线、小计算机系统接口(SCSI)总线、以太网总线、通用串行总线(USB)、高级图形处理器(AGP)总线及串行高级技术附接(SATA)总线中的一者。22.根据权利要求16所述的方法,其中执行指令包含在所述处理器中执行所述测试程序的指令以起始所述发射模式中的操作,其中在所述处理器中产生事务包含在所述处理器中产生第一事务及将所述第一事务发送到所述核心逻辑,其中在所述核心逻辑中产生事务包含在所述核心逻辑中基于所述第一事务产生第二事务及将所述第二事务发送到所述外部装置中的一者,其中验证所述一个或一个以上事务包含在所述测试逻辑中验证所述第一事务及所述第二事务,以及其中产生所述状态信号包含在所述测试逻辑中产生所述状态信号以指示所述第一事务及所述第二事务中的每一者是否有效。23.根据权利要求16所述的方法,其中执行指令包含在所述处理器中执行所述测试程序的指令以起始所述接收模式中的操作,其中在所述处理器中产生事务包含在所述处理器中产生第一事务及将所述第一事务发送到所述核心逻辑,其中在所述核心逻辑中产生事务包含在所述核心逻辑中产生第二事务、将所述第二事务发送到所述外部装置中的一者、在所述核心逻辑中产生第三事务及将所述第三事务发送到所述处理器,其中验证所述一个或一个以上事务包含用所述测试逻辑验证所述第一事务、所述第二事务及所述第三事务,及其中产生所述状态信号包含在所述测试逻辑中产生所述状态信号以指示所述第一事务、所述第二事务及所述第三事务中的每一者是否有效。24.根据权利要求16所述的方法,其进一步包含:其中执行指令包含在所述处理器中执行所述测试程序的指令以起始所述接收模式中的操作、在所述测试逻辑中产生数据及将所述数据发送到所述核心逻辑;其中在所述核心逻辑中产生所述事务包含基于所述数据在所述核心逻辑中产生第一事务及将所述第一事务发送到所述处理器;其中验证所述一个或一个以上事务包含用所述测试逻辑验证所述第一事务;及其中产生所述状态信号包含在所述测试逻辑中产生所述状态信号以指示所述第一事务是否有效。25.根据权利要求16所述的方法,其中验证所述一个或一个以上事务包含经由所述测试逻辑来截取所述一个或一个以上事务、经由所述测试逻辑产生参考数据、用所述测试逻辑将所述参考数据与同所述经截取的事务相关联的数据进行比较及用所述测试逻辑基于所述比较而验证所述经截取的事务。26.根据权利要求25所述的方法,其进一步包含:在所述处理器中产生包括种子值的控制信号;以及将所述控制信号发送到所述测试逻辑模块,其中产生所述参考数据包含用所述测试逻辑基于所述种子值产生所述参考数据。27.根据权利要求25所述的方法,其进一步包含:在所述处理器中产生控制信号;以及根据所述测试程序将所述控制信号发送到所述测试逻辑,其中在接收所述控制信号之前停用所述测试逻辑,且其中截取所述一个或一个以上事务包含在接收所述控制信号之后启用所述测试逻辑以通过主动地探查发送所述一个或一个以上事务所经由的一个或一个以上外部接口来截取所述事务。28.根据权利要求16所述的方法,其进一步包含在所述核心逻辑中产生与所述事务相关联的响应消息、经由所述核心逻辑将所述响应消息发送到所述处理器及在所述测试逻辑中验证所述响应消息,其中产生所述状态信号包含在所述测试逻辑中产生所述状态信号以指示所述响应消息是否有效。29.根据权利要求16所述的方法,其中所述集成电路经配置以用于在个人计算机、膝上型计算机、个人数字助理(PDA)、超移动个人计算机(UMPC)、移动手持机、联网装置及电子计算装置中的一者中操作。30.一种集成电路,其包含:用于在集成电路上执行测试程序的指令以起始在发射模式及接收模式中的一者中的操作的装置;用于根据所述测试程序在所述处理器中产生事务以与所述集成电路上的核心逻辑通信的装置;用于根据所述测试程序在所述核心逻辑中产生事务以与所述处理器及一个或一个以上外部装置通信的装置;用于经由所述集成电路上的测试逻辑验证所述事务中的一个或一个以上事务的装置;以及用于产生指示所述一个或一个以上事务是否有效的状态信号的装置。31.根据权利要求30所述的集成电路,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口以大于约200MHz的频率操作。32.根据权利要求30所述的集成电路,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口以大于约400MHz的频率操作。33.根据权利要求30所述的集成电路,其中所述事务中的每一者与相应协议相关联,且其中所述用于验证所述一个或一个以上事务的装置包含用于在所述测试逻辑中基于所述一个或一个以上事务是否与所述相应协议一致而验证所述一个或一个以上事务的装置。34.根据权利要求30所述的集成电路,其中所述用于验证所述一个或一个以上事务的装置包含用于通过所述测试逻辑基于与所述一个或一个以上事务相关联的数据而验证所述一个或一个以上事务的装置。35.根据权利要求30所述的集成电路,其中所述处理器、所述核心逻辑及所述外部装置经由一个或一个以上外部接口而彼此通信,且其中所述外部接口中的每一者包括外围组件互连(PCI)总线、高级高性能总线(AHB)、及高级可扩展接口(AXI)总线、小计算机系统接口(SCSI)总线、以太网总线、通用串行总线(USB)、高级图形处理器(AGP)总线及串行高级技...

【专利技术属性】
技术研发人员:斯里尼瓦斯马达利
申请(专利权)人:高通股份有限公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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