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本技术公开了一种测试治具用框架，包括上框架组件和下框架组件，所述上框架组件包括内部具有封闭安装空间的上框架，所述上框架的顶壁与侧壁铰接以使可从顶部打开上框架，所述下框架组件包括内部具有封闭安装空间的下框架，所述下框架的顶壁与侧壁铰接以使可从...
该专利属于苏州飞越电子设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州飞越电子设备有限公司授权不得商用。

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