【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电路板测试，具体为一种测试治具用框架。
技术介绍
1、主板等电路板在出厂之前需要对其做功能测试，保证其产品良率，目前测试一般通过测试治具实现，测试治具一般由框架构成，框架内集成有测试设备以及一些电器控制元件，长期的使用需要对治具内部的结构进行更换和维护，现有的测试治具布局不合理，导致治具打开不便，同时，没有一些安全防护方面的措施，导致在人员操作时发生危险。
技术实现思路
1、为解决现有技术的不足，本申请提供了一种测试治具用框架，包括上框架组件和下框架组件，所述上框架组件包括内部具有封闭安装空间的上框架，所述上框架的顶壁与侧壁铰接以使可从顶部打开上框架，所述下框架组件包括内部具有封闭安装空间的下框架，所述下框架的顶壁与侧壁铰接以使可从顶部打开下框架；其中，所述上框架和所述下框架之间具有间隔且两者通过氮气弹簧连接。
2、进一步的，所述上框架的顶壁与侧壁之间设置箱包扣，顶壁上还设置隐藏把手，便于固定上框架以及打开上框架。
3、进一步的，所述上框架的顶壁与底壁之间...
【技术保护点】
1.一种测试治具用框架，包括上框架组件和下框架组件，其特征在于：所述上框架组件包括内部具有封闭安装空间的上框架，所述上框架的顶壁与侧壁铰接以使可从顶部打开上框架，所述下框架组件包括内部具有封闭安装空间的下框架，所述下框架的顶壁与侧壁铰接以使可从顶部打开下框架；其中，所述上框架和所述下框架之间具有间隔且两者通过氮气弹簧连接。
2.根据权利要求1所述的一种测试治具用框架，其特征在于：所述上框架的顶壁与侧壁之间设置箱包扣，顶壁上还设置隐藏把手。
3.根据权利要求1所述的一种测试治具用框架，其特征在于：所述上框架的顶壁与底壁之间设置防呆支撑杆。
...【技术特征摘要】
1.一种测试治具用框架，包括上框架组件和下框架组件，其特征在于：所述上框架组件包括内部具有封闭安装空间的上框架，所述上框架的顶壁与侧壁铰接以使可从顶部打开上框架，所述下框架组件包括内部具有封闭安装空间的下框架，所述下框架的顶壁与侧壁铰接以使可从顶部打开下框架；其中，所述上框架和所述下框架之间具有间隔且两者通过氮气弹簧连接。
2.根据权利要求1所述的一种测试治具用框架，其特征在于：所述上框架的顶壁与侧壁之间设置箱包扣，顶壁上还设置隐藏把手。
3.根据权利要求1所述的一种测试治具用框架，其特征在于：所述上框架的顶壁与底壁之间设置防呆支撑杆。
4.根据权利要求1所述的一种测试治具用框架，其特征在于：沿所述上框架内的侧壁与底壁连接处设置线槽...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋圆苑，
申请(专利权)人：苏州飞越电子设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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