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本申请提供了一种DPU板卡高温老化测试设备、系统、方法及介质，涉及高温老化测试技术领域，包括控制模组包括下压模组、支撑部件和接触模组；支撑部件包括连接机构以及多层支撑机构；每层支撑机构与每层PCIE底座一一对应，每层支撑机构上设置有多个接触...
该专利属于中科驭数（北京）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中科驭数（北京）科技有限公司授权不得商用。

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