温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种基于SegNet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，旨在解决工业生产中导电粒子区域分割效率低、精度差的问题。方法包括：对输入图像进行灰度化、对比度增强和降噪处理，生成预处理图像；构建基于编码器‑解码器结构的SegNet网络...
该专利属于中科威客科技（河南）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中科威客科技（河南）有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。