一种基于SegNet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法技术

本发明专利技术提供一种基于SegNet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，旨在解决工业生产中导电粒子区域分割效率低、精度差的问题。方法包括：对输入图像进行灰度化、对比度增强和降噪处理，生成预处理图像；构建基于编码器‑解码器结构的SegNet网络模型，编码器采用VGG‑16前13层卷积网络，浅层引入多尺度卷积核，深层采用空洞卷积以扩大感受野；解码器通过反卷积和跳跃连接恢复空间分辨率，并引入空间注意力模块聚焦导电粒子区域；采用加权交叉熵与Dice损失函数组合优化模型，通过动态学习率调度提升训练稳定性。本发明专利技术方法显著提高了导电粒子检测的精度与鲁棒性，实现了高效、自动化的工业级检测，具有显著的经济效益和社会效益。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及各向异性导电薄膜导电粒子检测，具体涉及一种基于segnet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法。

技术介绍

1、在lcm的生产过程中，lcm各向异性导电薄膜导电微球质量的监控是一个lcm产品可靠性保障的核心环节，对lcm产品的可靠性有着重要影响。lcm各向异性导电薄膜导电微球质量的监控对lcm行业发展的意义日趋显著，成为保证lcm质量、改进生产工艺、提高品牌效益、获取更大市场份额的重要支撑手段。

2、现有lcm产线中，各向异性导电薄膜导电微球的检测往往采用离线检测，以人工借助显微镜等光学仪器目视的方式进行检测及判定，每一片检测时间在5—10分钟，属于劳动密集型产业。传统的生产效率每小时1000片左右，每4s生产一片，然而传统的人工目检方式容易受到检测人员的状态、经验等多种因素的影响，不管是在检测速度方面，还是可靠性方面，都难以满足对lcm生产的品质要求和产能需求。

3、人工操作显微镜成像检测无法满足工业在线式批量检测要求。在实际工业运用领域，对lcm检测产能需求大，通常需要在4s左右完成相关检查，传统通过显微镜成像来本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于SegNet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：包括如下步骤：

2.据权利要求1所述的基于SegNet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：使用图像标注工具对导电粒子区域进行像素级标注并生成与原始图像尺寸一致的标签图像。

3.根据权利要求1所述的基于SegNet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：在编码器的浅层引入不同大小的卷积核，并行提取多尺度特征；在编码器的深层引入空洞卷积，以捕获多尺度特征。

4.根据权利要求3所述的基于SegNet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：在编码...

【技术特征摘要】

1.一种基于segnet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：包括如下步骤：

2.据权利要求1所述的基于segnet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：使用图像标注工具对导电粒子区域进行像素级标注并生成与原始图像尺寸一致的标签图像。

3.根据权利要求1所述的基于segnet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：在编码器的浅层引入不同大小的卷积核，并行提取多尺度特征；在编码器的深层引入空洞卷积，以捕获多尺度特征。

4.根据权利要求3所述的基于segnet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：在编码器的第一层和第二层，并行使用1×1、3×3、5×5的卷积核，通过1×1卷积降低通道维度，再经3×3和5×5卷积提取多尺度特征。

5.根据权利要求3所述的基于segnet架构的各向异性导电薄膜导电粒子检测方法，其特征在于：所述深层为第三层和第四层，在编码器的第三层和第四层，使用空洞率为2和4的空洞卷积，扩大感受野以捕...

【专利技术属性】
技术研发人员：马康，禹春来，张具琴，付瑞玲，张凯，李庆阳，余浩阳，安慧超，
申请(专利权)人：中科威客科技河南有限公司，
类型：发明
国别省市：