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一种减小封装寄生参数的工艺方法技术
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文档序号:46094329
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本发明公开了一种减小封装寄生参数的工艺方法,包括如下步骤:S1、在封装基板的放芯区域增设多个凸点,用于将芯片和封装基板进行键合;S2、将放芯区域涂胶,将芯片放置在放芯区域;S3、在芯片放置完成后,继续对多个凸点之间填充绝缘介质底填料;利用塑...
该专利属于江苏华创微系统有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏华创微系统有限公司授权不得商用。
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