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本技术提供了一种可调节热常数分析仪样品架，包括底座；升降机构，其设置于所述底座的顶端，用于调节样品一和样品二的高度；第一调节机构，其设置于所述底座的顶端并在所述平台的前方位置；所述第一调节机构包括第一伸缩杆和第二伸缩杆，所述第二伸缩杆的一端...
该专利属于厦门大学所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学授权不得商用。

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