一种可调节热常数分析仪样品架制造技术

本技术提供了一种可调节热常数分析仪样品架，包括底座；升降机构，其设置于所述底座的顶端，用于调节样品一和样品二的高度；第一调节机构，其设置于所述底座的顶端并在所述平台的前方位置；所述第一调节机构包括第一伸缩杆和第二伸缩杆，所述第二伸缩杆的一端设置有用于夹持测试探头的第一板和第二板，所述第一板上设置有用于夹持所述测试探头的夹持组件。本技术可根据样品的高度调节探头和样品台的位置，操作简易，且可以避免样品台滑落造成探头发生弯折。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种可调节热常数分析仪样品架。

技术介绍

1、hotdi sk热常数分析仪是一种基于瞬态平面热源法测量材料热传导性能的高精度仪器，它可以测定材料的导热系数、热扩散系数和比热容等热物性参数，是用来测试材料的导热系数的高精度分析仪器。热常数分析仪测试需要上下两块相同的样品夹住探头，与探头接触的样品表面必须平整。测试装置中的测试探头位置是固定的，对于不同厚度的待测样品，只能通过调整样品台的高度，以适应测试探头。但是在实际使用中，样品台的高度有特定的尺寸限制，如果样品高度超出了样品台的容纳范围，可能无法进行测试，因此，为了更好地适应不同高度的样品测试需求，为此进行改进。

技术实现思路

1、本技术提供了一种可调节热常数分析仪样品架，可以有效解决上述问题。

2、本技术是这样实现的：

3、一种可调节热常数分析仪样品架，包括底座；

4、升降机构，其设置于所述底座的顶端，用于调节样品一和样品二的高度；

5、第一调节机构，其设置于所述底座的顶端并在平台的前方位置；所述第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种可调节热常数分析仪样品架，其特征在于，包括

2.根据权利要求1所述的一种可调节热常数分析仪样品架，其特征在于，所述升降机构(2)包括相平行设置的底板(20)，设置于两个所述底板(20)之间的第一交叉板(23)和第二交叉板(24)，设置于所述第一交叉板(23)和所述第二交叉板(24)之间的中心杆(25)，分别设置于所述第一交叉板(23)和所述第二交叉板(24)两端的第一连杆(26)和第二连杆(27)，形成于所述底板(20)上的让位槽(21)，设置于所述第一连杆(26)和所述第二连杆(27)上的调节件(28)；通过两个所述第一交叉板(23)活动端上的两个第二连杆(27)与...

【技术特征摘要】

1.一种可调节热常数分析仪样品架，其特征在于，包括

2.根据权利要求1所述的一种可调节热常数分析仪样品架，其特征在于，所述升降机构(2)包括相平行设置的底板(20)，设置于两个所述底板(20)之间的第一交叉板(23)和第二交叉板(24)，设置于所述第一交叉板(23)和所述第二交叉板(24)之间的中心杆(25)，分别设置于所述第一交叉板(23)和所述第二交叉板(24)两端的第一连杆(26)和第二连杆(27)，形成于所述底板(20)上的让位槽(21)，设置于所述第一连杆(26)和所述第二连杆(27)上的调节件(28)；通过两个所述第一交叉板(23)活动端上的两个第二连杆(27)与所述让位槽(21)活动连接，并通过所述调节件(28)固定所述第一连杆(26)和所述第二连杆(27)，使平台(22)上升或/和下降。

3.根据权利要求1所述的一种可调节热常数分析仪样品架，其特征在于，所述第一板(32)上还形成有用于所述夹持组件活动的镂空槽(320)；所述夹持组件包...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄柳英，张智博，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：新型
国别省市：