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本发明公开一种超表面安全线多角度复用设计与仿真方法及系统，属于微纳光学及光学防伪技术领域，包括：S1、对获取的多类型防伪图像进行预处理；S2、将预处理后的防伪图像和补偿后的振幅分布，分别与全息相位图分布相结合，得到超表面设计相位分布；S3、...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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