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上海米度测量技术有限公司
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顶管机位姿分析方法、系统、设备和存储介质技术方案
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文档序号:46054301
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本发明公开了一种顶管机位姿分析方法、系统、设备和存储介质。其特征包括:采集第一目标装置的第一位置坐标集和第二目标装置的第二位置坐标集;根据第一位置坐标集和第二位置坐标集进行大地坐标系和激光靶坐标系的坐标关系计算,确定坐标系转换参数;根据坐标...
该专利属于上海米度测量技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海米度测量技术有限公司授权不得商用。
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