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本申请公开了一种探针性能测试方法，涉及半导体测试技术领域，公开了探针性能测试方法，包括：将探针卡测试母板的牛角接头与测试机连接，以将测试机的资源传导到牛角接头上，然后打开探针卡测试母板的盖板，将待测的探针卡放置在探针卡测试母板的探针卡固定板...
该专利属于深圳市道格特科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市道格特科技有限公司授权不得商用。

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